- 装帧:平装
- 作者:(意)马尔塔.巴吉安
- ISBN:9787121442063
- 出版日期:2022-9-1
- 书名:电子器件的电离辐射效应:从存储器到图像传感器
- 出版社:电子工业出版社
- 开本:26cm
本书涵盖了现代半导体的电离辐射效应,探讨了抗辐射加固技术。首先介绍辐射效应的重要背景知识、物理机制、仿真辐射输运的蒙特卡罗技术和电子器件的辐射效应。重点阐述以下内容:商用数字集成电路的辐射效应,包括微处理器、易失性存储器(SRAM和DRAMD)和闪存;数字电路、现场可编程门阵列(FPGA)和混合模拟电路中的软错误效应、总剂量效应、位移损伤效应和设计加固解决方案;纤维光学和成像器件(包括CMOS图像传感器和电荷耦合器件CCD)的辐射效应。