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电子学系统辐射效应与加固技术

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  • 装帧:平装
  • 作者:许献国
  • ISBN:9787576705409
  • 出版日期:2023-5-1
  • 书名:电子学系统辐射效应与加固技术
  • 出版社:哈尔滨工业大学出版社
  • 开本:24cm
本书介绍了辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1~3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用,以及电子元器件的辐射效应;第4~6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试,以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真;第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。
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