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图解入门半导体器件缺陷与失效分析技术精讲

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装帧:平装
作者:（日）山本秀和
ISBN:9787111749622
出版日期:2024-2-1
书名:图解入门半导体器件缺陷与失效分析技术精讲
出版社:机械工业出版社
开本:24cm

本书共分为四章，内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。

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