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公差配合与测量技术

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  • 装帧:平装
  • 作者:杨光龙
  • ISBN:9787121267444
  • 出版日期:2022-7-3
  • 书名:公差配合与测量技术
  • 出版社:电子工业出版社
  • 开本:26cm
本书系统地介绍了公差配合与测量技术方面的基础知识,全书共分七个项目,并以任务形式进行讲解,形式新颖,通俗易懂,实用性强。内容主要包括:前言,极限配合与测量技术入门;测量零件线性尺寸;形状及位置公差及其检测;表面粗糙度及检测;测量角度、锥度;典型零件的测量;零件精密测量。
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