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互换性与技术测量

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  • 装帧:平装
  • 作者:杨化书
  • ISBN:9787568231398
  • 出版日期:2016-11-2
  • 书名:互换性与技术测量
  • 出版社:北京理工大学出版社
  • 开本:26cm
本书内容包括绪论、几何量测量基础、极限与配合及检测、几何公差与检测、表面粗糙度轮廓及其检测、光滑极限量规设计、滚动轴承的公差与配合、键和花键连接的公差与检测、螺纹公差与检测以及渐开线圆柱齿轮的公差与检测。
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