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公差配合与技术测量

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  • 装帧:平装
  • 作者:石枫
  • ISBN:9787564036270
  • 出版日期:2018-3-1
  • 书名:公差配合与技术测量
  • 出版社:北京理工大学出版社
  • 开本:24cm
本书共分9个项目,分别为极限与配合基础、技术测量基础、形状和位置公差及其检测、表面粗糙度及测量、常用典型结合的公差及其检测、尺寸链等。
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