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集成电路封装与测试

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  • 装帧:平装
  • 作者:卢静
  • ISBN:9787040613827
  • 出版日期:2024-07-01
  • 书名:集成电路封装与测试
  • 出版社:高等教育出版社
  • 开本:26cm
本书主要包括导论、模拟芯片LM1117塑料封装、模拟芯片LM1117测试、数字芯片74LS138金属封装、数字芯片74LS138测试、存储器芯片封装与测试等内容,融入集成电路封装与测试岗位、“集成电路开发及应用”职业院校技能大赛、“集成电路开发与测试”“集成电路封装与测试”1+X职业技能等级证书要求,充分体现“岗课赛证”融通。
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