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UVM芯片验证技术案例集

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装帧:平装
作者:马骁
ISBN:9787302658542
出版日期:2024-05-01
书名:UVM芯片验证技术案例集
出版社:清华大学出版社
开本:24cm

本书分为多个专题，每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题，相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤，实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景，解决的思路、基本原理、步骤，并给出了示例代码供参考。

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