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集成电路封装与测试微课版

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  • 装帧:平装
  • ISBN:9787115629647
  • 出版日期:2024-03
  • 书名:集成电路封装与测试
  • 出版社:人民邮电出版社
  • 作者:韩振花,冯泽虎主编
  • 开本:26cm
本书较为全面地介绍集成电路封装与测试技术知识。本书共8个项目,包括认识集成电路封装与测试、封装工艺流程、气密性封装与非气密性封装、典型封装技术、芯片测试工艺、搭建集成电路测试平台、74HC138芯片测试和LM358芯片测试,每个项目均设置了1+X技能训练任务,帮助读者巩固所学的内容。
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