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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应

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装帧:平装
ISBN:9787121351150
出版日期:2023-11
书名:现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
出版社:电子工业出版社
作者:(日)Eshi H. Ibe著
开本:26cm

本书主要介绍广泛存在的各种辐射,及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。

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