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（社版）XK片上系统测试设计与优化（此书不退货）

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装帧:平装
作者:[瑞典]埃里克·拉森
ISBN:9787030769183
出版日期:2024-1-1
书名:（社版）XK片上系统测试设计与优化（此书不退货）
出版社:科学出版社
开本:26cm

本书讨论了片上系统(SoC)测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。

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